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ISO 12085 Technical Corrigendum 1-1998 产品几何量技术规范(GPS)表面结构:轮廓法图形参数技术勘误1

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 13:35:19  浏览:8966   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:GeometricalProductSpecifications(GPS)-Surfacetexture:Profilemethod-Motifparameters;TechnicalCorrigendum1
【原文标准名称】:产品几何量技术规范(GPS)表面结构:轮廓法图形参数技术勘误1
【标准号】:ISO12085TechnicalCorrigendum1-1998
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1998-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC213
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:粗糙度(表面);波纹;表面;表面纹理;稳定性(机械性能);外形;粗糙度;测量技术;试验;主要方法;精整
【英文主题词】:Consistency(mechanicalproperty);Finishes;Measuringtechniques;Motifmethod;Productspecifications;Profile;Ripple;Roughness;Roughness(surface);Scoringprocedures(tests);Stylusinstrumentmethod;Surfacetexture;Surfaces;Testing
【摘要】:ThisisTechnicalCorrigendum1toISO12085-1996(GeometricalProductSpecifications(GPS)—Surfacetexture:Profilemethod—Motifparameters)
【中国标准分类号】:J04
【国际标准分类号】:17_040_30
【页数】:1P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:进出口卤虫卵检验方法
英文名称:Inspection of brine shrimp eggs for import and export
替代情况:替代SN/T 0476-1995
发布部门:国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2010-03-02
实施日期:2010-09-16
首发日期:
作废日期:
主管部门:国家认证认可监督管理委员会
提出单位:国家认证认可监督管理委员会
归口单位:国家认证认可监督管理委员会
起草单位:中华人民共和国辽宁出入境检验检疫局
起草人:黄大亮、陈阳、李靓、李宣彤、崔妍、崔晗、夏德昌、陈本洲
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-09-16
页数:8页
书号:155066·2-20804
适用范围

本标准规定了进出口卤虫卵的包装、质量、水分、杂质、空壳率和孵化率的检验方法。
本标准适用于进出口卤虫卵的检验。

前言

没有内容

目录

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引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。 凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。 凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T6543 运输包装用单瓦楞纸箱和双瓦楞纸箱
GB/T6682 分析实验室用水规格和试验方法
SN/T0188 进出口商品重量鉴定规程 衡器鉴重

所属分类: 医药 卫生 劳动保护 卫生 环境卫生 环保 保健与安全
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Part15:Isolatedpowersemiconductordevices
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.第15部分:单独的电力半导体器件
【标准号】:IEC60747-15-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-12
【实施或试行日期】:2010-12
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:验收检验;组件;定义(术语);分立器件;电气工程;电绝缘材料;电子工程;电子设备及元件;耐久试验;检验;集成电路;测量;测量技术;可靠度;半导体器件;符号;试验
【英文主题词】:Acceptanceinspection;Components;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electricalinsulatingmaterials;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Endurancetesting;Inspection;Integratedcircuits;Measurement;Measuringtechniques;Reliability;Semiconductordevices;Symbols;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60747givestherequirementsforisolatedpowersemiconductordevicesexcludingdeviceswithincorporatedcontrolcircuits.TheserequirementsareadditionaltothosegiveninotherpartsofIEC60747forthecorrespondingnon-isolatedpowerdevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:54P.;A4
【正文语种】:



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