IEC 60749-33-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
作者:标准资料网 时间:2024-05-09 18:53:43 浏览:8915
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part33:Acceleratedmoistureresistance-Unbiasedautoclave
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
【标准号】:IEC60749-33-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加热处理;高压釜;粘结强度;气候试验;元部件;定义;破坏试验;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境试验;集成电路;机械试验;抗湿;耐压性;半导体器件;半导体;试验;试验条件
【英文主题词】:
【摘要】:Theunbiasedautoclavetestisperformedtoevaluatethemoistureresistanceintegrityofnon-hermeticallypackagedsolid-statedevicesusingmoisturecondensingormoisturesaturatedsteamenvironments.Itisahighlyacceleratedtestwhichemployscond
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
【标准号】:IEC60749-33-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加热处理;高压釜;粘结强度;气候试验;元部件;定义;破坏试验;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境试验;集成电路;机械试验;抗湿;耐压性;半导体器件;半导体;试验;试验条件
【英文主题词】:
【摘要】:Theunbiasedautoclavetestisperformedtoevaluatethemoistureresistanceintegrityofnon-hermeticallypackagedsolid-statedevicesusingmoisturecondensingormoisturesaturatedsteamenvironments.Itisahighlyacceleratedtestwhichemployscond
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语
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